扫描穿遂金相试样镶嵌机(STM:Scanning Tunneling Microscopy)
利用矽晶圆或纳米碳管(CNT)制造成针尖小于100nm(纳米)的纳米尖端,当纳米尖端由“金属固体”外表扫过期,尖端打仗“金属”外表会导电,使用导电的巨细来控尖端随物体外表上下升沉而上下挪动,可以量测“金属固体”(良导体)外表。
将尖端上下挪动情况记载上去,而且使用电脑模仿物体外表三维上下升沉而绘出绝对应的三维图形。
扫描穿遂金相试样镶嵌机(STM)的剖析度与纳米尖真个尺寸有关,可以用来察看约莫1nm(纳米)的布局,因而可以看到由电脑模仿的原子影像。