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各种金相试样抛光机在纳米质料布局剖析中的使用？
Scanning Electron Microscope (SEM):
扫描电子金相试样抛光机。为检测微粒巨细、外形、架构与胶凝作用技能之ㄧ。使用扫描入射电子束与样品外表互相作用所发生的种种信号(如二次电子、X射线谱等)，接纳不同的信号检测器來察看样品外表形貌和化学构成的剖析技能。
Scanning Mobility Particle Sizer (SMPS):
扫描式电挪动度微粒剖析仪、扫描漂挪动微粒剖析仪、扫描挪动微粒剖析。可以準确量测微粒之粒径（0.005~1.0 μm）分佈及數目浓度。
Scanning Near-Field Optical Microscopy (SNOM):
扫描近场光学金相试样抛光机。使用孔栅限定的光纤扫描探针，在距離样品外表一个波长以内探测样品外表的光学特征变革，将光信号的变革转换成图像，取得样品外表布局及光学特征的剖析技能。
Scanning Probe Microscopy (SPM):
扫描探针金相试样抛光机。使用丈量扫描探针与样品外表互相作用所发生的信号，在奈米级或原子级的程度上研讨物质外表的原子和分子的多少布局及相干物理、化学性子的剖析技能。
Scanning Thermal Microscopy (STHM):
扫描热金相试样抛光机。透过控制、调治外表盖有镍层的钨丝探针针尖与样品间距，进行恒温扫描，察看样品外表微区形貌的剖析技能。
Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM):
扫描穿透电子金相试样抛光机。
Scanning Tunneling Microscopy (STM):
扫描隧道金相试样抛光机、扫描穿隧金相试样抛光机。使用曲率半径为原子标准的金属针尖，在导体或半导体样品外表扫描，在针尖与样品间加肯定电压，使用“量子隧道效应”來取得反应样品外表微区形貌及电子态图像的剖析技能。所谓隧道效应系指粒子可穿过比自己总能量高的能量停滞。
Transmission Electron Microscopy (TEM):
穿透式电子金相试样抛光机。为检测微粒巨细、外形、架构与胶凝作用技能之ㄧ；以透射电子为成像信号，透过电子光学体系的缩小成像察看样品的微观构造和形貌的剖析技能。
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