高剖析度穿透式电子,金相试样切割机(HRTEM:High Resolution Transmission Electron Microscopy)
利用六硼化镧(LaB6)或奈米碳管(CNT)製作成针尖小于100nm(奈米)的奈米尖端来发射电子束(场发射),奈米尖端可以使电子束的直径减少到 10nm(奈米)左右,请参考图1-6(b)所示,而它的成像原理与传统的穿透式电子金相试样切割机(TEM)略有差别,在此不再细致讨论,如图4-55(c)所示为高剖析度穿透式电子金相试样切割机(HRTEM)照片,高剖析度穿透式电子金相试样切割机(HRTEM)的剖析度是现在一切电子金相试样切割机中最高的,可以用来察看约莫 1nm(奈米)的布局,因而可以看到「假造」的原子影像,如图4-55(c)中的颗粒状影像,为什麽是「假造」而不是真实的原子影像呢?别遗忘,这些影像实在只是电子遭到物体原子分列的影响而散射,最初投影在投影银幕上的二维投影图罢了,还必需反过去推算,才干失掉物体原子真正的三维布局与结晶情况,现在曾经有这种反向推算的技能,但推算完成后也只能失掉电脑绘出的三维原子分列图形(电脑画图),曾经不算是真正的「照片」了。
|